産業用ラズベリーパイ MICA-R4 テストデータ
IIoT化の求められる現場環境下では、コンピュータ機器も過酷な条件に置かれることが想定されます。
そうした用途に対応するためには、広い動作温度範囲、優れた耐振動・耐衝撃性能、耐EMC性能などが求められます。
本ページではハーティングの産業用ラズベリーパイMICA-R4の温度試験、振動衝撃試験、EMC試験のデータをご紹介します。
温度試験
恒温槽を使用した-40℃でのコールドブート試験と、温度サイクル試験を実施。
高温90℃環境下でCPU負荷100％でも動作。過酷な温度環境での使用に対応します。
・コールドブート試験 -40℃
・温度サイクル試験 IEC 60068-2-14:09 Test Nb
パラメータ：-40℃～+90℃
保持時間：3h
サイクル：5
（仕様上の温度範囲は-20℃～＋60℃です。高温環境では製品寿命が短くなります）
振動衝撃試験
振動
IEC 60068-2-6:07 Test Fc Sinus
IEC 60721-3-3: Class 3M4
周波数: 5 Hz – 8.5 Hz, 幅p-p20㎜
周波数: 8.5 Hz– 500 Hz 加速度 3g
衝撃
IEC 60068-2-27:10 Test Ea
IEC 60721-3-3: Class 3M6 & 3M7
衝撃タイプ: 正弦半波
加速度:25g 作用時間: 6 ms
衝撃回数: X, Y, Z軸に各100回
EMC試験
Immunity tests :
EN IEC 61000-6-2:2019
| Test | Basic EMC standard or test method |
産業用 |
民生用（参考） |
|---|---|---|---|
|
静電気放電試験 |
EN 61000-4-2:2009 |
接触±4kV[B] |
接触±4kV[B] 気中±8kV[B] |
|
放射電磁界イミュニティ試験 |
EN IEC 61000-4-3:2020 |
10V/m[A] |
3V/m[A] |
|
ファースト・トランジェント／バースト試験 |
EN 61000-4-4:2012 |
I/O: ±1kV[B] |
I/O: ±0.5kV[B] |
|
雷サージ試験 |
EN 61000-4-5:2014+A1:2017 |
I/O: 0.5kV,1kV[B] |
I/O: 0.5kV,1kV[B] |
|
伝導電磁界イミュニティ試験 |
EN 61000-4-6:2014 |
I/O:10V[A] |
I/O:3V[A] |
|
電源周波数磁界イミュニティ試験 |
EN 61000-4-8:2010 |
30A/m[A] |
3A/m[A] |
|
電源電圧変動試験（AC） |
EN IEC 61000-4-11:2020 |
N/A |
N/A |
Emission measurements:
EN IEC 61000-6-4:2019
| Test | Basic EMC standard or test method |
産業用 |
民生用（参考） |
|---|---|---|---|
|
放射エミッション |
EN IEC 61000-6-4:2019 Table 3 |
10m測定法QP 3m測定法QP |
10m測定法QP 3m測定法QP |
|
伝導性エミッション |
EN IEC 610006 4:2019 Table 5 |
0.15～0.5MHz 79dB |
0.15～0.5MHz 66-56dB |